sexta-feira, 6 de março de 2015

IEAv Recebe Equipamento Ímpar no Brasil Para Espectrometria de Massa de Amostras Sólidas em Três Dimensões

Segue uma nota postada dia (05/03) no site do Instituto de Estudos Avançados (IEAv) destacando que o instituto recebeu equipamento ímpar no Brasil para Espectrometria de Massa de amostras sólidas em três dimensões

Duda Falcão

IEAv Recebe Equipamento Ímpar no Brasil
Para Espectrometria de Massa de Amostras
Sólidas em Três Dimensões

05/03/2015

Está em operação um espectrômetro de massa de íons secundários (SIMS), no Laboratório 5C do Projeto PASIL, localizado no Prédio EFO-C. Trata-se do primeiro sistema deste tipo adquirido no Brasil.Este é um equipamento que realiza análise de espécies (átomos e moléculas), em amostras sólidas, de massas 1 uma (unidade de massa atômica) até 300 uma, com resolução de 1 massa em 300, sendo possível analisar também a distribuição de massas especificadas pelo usuário em 3 dimensões (volumétrica). Perfis superficiais (resolução ~ 80 mm) e perfis em profundidade (resolução – camadas monoatômicas) podem ser obtidos para espécies pré selecionadas. Como potenciais aplicações no IEAv e para colaboradores externos estão a análise de distribuição isotópica (PASIL), distribuição de espécies em circuitos integrados microeletrônicos e optoeletrônicos (EFO-S) em 2D ou 3D, perfil de filmes finos em profundidade (EFO-O) e distribuição espacial das espécies em ligas metálicas (EFO-L). Atualmente, estamos realizando vários experimentos para dominar e parametrizar a técnica. A ideia inicial é priorizar as tarefas para a execução de trabalhos internos ao Projeto PASIL, da Divisão de Fotônica e das outras Divisões do IEAv para depois abrirmos para colaborações com instituições externas.

Desenvolvimento de novos materiais para a indústria aeroespacial, novos dispositivos microeletrônicos e optoeletrônicos para aeronaves, baterias mais eficientes com isótopos de terras raras, e outras áreas de desenvolvimento tecnológico aeroespacial se beneficiarão deste novo nível de observação/caracterização proporcionado pelo SIMS.

Espectrômetro de massa.


Fonte: Site do Instituto de Estudos Avançados (IEAv)

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